德国Becker&Hickl公司,专注于荧光寿命测量及荧光寿命显微(FLIM)领域的研究及产品系统研发,利用其独特的高分辨率多维TCSPC技术,不断的推动FLIM技术的前进。基于bh公司常年的FLIM研究,可以提供基于各种显微镜的FLIM系统升级,方案灵活,性能可靠。
bh FLIM系统具备很多其他FLIM系统不具备的特点:
bh公司可提供完整的 DCS-120 共聚焦/双光子FLIM系统和基于纳米位移台的 PZ-FLIM-110 FLIM系统,也可以为各类显微镜提供升级模组。除了单个通道的升级,也可进行多通道的升级。此外,还可提供FASTAC快速采集FLIM升级,最短采集时间低至100ms。
Zeiss LSM 710/780/880/980 | Nikon A1/A2/C1 |
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Olympus FV300/1000/3000 | Leica SP5/SP8 |
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激光共聚焦及双光子显微镜等点扫描成像系统造价昂贵,对于成像空间分辨率要求不高的应用,可以在普通荧光显微镜上升级宽场FLIM系统。
脉冲激光器 |
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空间扫描单元 |
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显微镜 |
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单光子探测器 |
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TCSPC计数器 |
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FLIM软件 |
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荧光寿命是指分子在单线激发态所平均停留的时间。它不仅与物质自身的结构有关,而且与其所处微环境的极性、粘度等条件有关,因此通过荧光寿命测定可以直接了解物质及所在体系发生的变化。荧光现象多发生在纳秒级,正好是分子运动的时间尺度,因此测量荧光寿命可以“看”到许多复杂的分子间作用过程,例如超分子体系中分子间的簇集,固液界面上吸附态高分子的构象重排、蛋白质高级结构的变化等。由于荧光寿命是所研究系统的固有特性,与细胞内各处荧光探针的局部浓度无关,且不受光漂白和散射的影响,与荧光成像相比有更多优势。
FLIM-荧光寿命成像显微,是将荧光寿命测量与激光扫描共聚焦显微镜等样品扫描技术相结合的成像技术,通过扫描可以得到样品各空间点荧光强度随时间变化情况。
bh公司不只是将FLIM考虑成一种增加显微图像额外对比度的方法,更是将其考虑及设计为一种分子成像技术:bh FLIM技术利用了荧光团的荧光衰减函数是其分子环境的指标,以及多指数衰减分析提供了分子信息的特性,例如活细胞和组织的代谢状态,蛋白质构象和蛋白质相互作用,细胞对药物和环境参数的反应,以及癌症发生和进展的机制等。